TFX3200


TFX3200——薄膜厚度测量设备


l 可量测多种材料薄膜

l 提供薄膜可靠和精确的厚度、折射率、成分比率和应力测量

l 低持有成本（COO），输出产能高，具有极高的性价比

l 机械运动性能可靠，稳定性表现卓越

l 功能丰富、易用的软件和算法

l 全面支持工厂自动化要求



TFX3000

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